รายละเอียดหนังสือ
รหัสสินค้า: 9789742291884
จำนวน: 28 หน้า
ขนาดรูปเล่ม: 185 x 256 x 4 มม.
น้ำหนัก: 115 กรัม
เนื้อในพิมพ์: ขาวดำ 
ชนิดปก: ปกอ่อน 
ชนิดกระดาษ: -ไม่ระบุ 
หน่วย: เล่ม 
สำนักพิมพ์: เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ (MTEC), ศูนย์ 
เดือนปีที่พิมพ์: 06 / 2545
พิมพ์ครั้งล่าสุด:ครั้งที่ 1 เดือน 12 ปี 2001
:: เนื้อหาโดยสังเขป
หนังสือเล่มนี้เป็นการเผยแพร่ความรู้ความเข้าใจเกี่ยวกับเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิงให้กว้างขวางขึ้นเพื่อให้ผู้ที่สนใจได้เข้าใจหลักการและสามารถประยุกต์ใช้ได้ถูกต้อง และยังเป็นการเพิ่มศักยภาพของประเทศทางด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี ซึ่งในปัจจุบันเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิงได้เข้ามามีบทบาททั้งในงานวิจัยและพัฒนา รวมทั้งกิจกรรมต่าง ๆ ในอุตสาหกรรมการผลิตมากขึ้น
:: สารบัญ


สารบัญ

  • คำนิยมจากผู้อำนวยการศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ

  • คำนำ

  • จุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิง : ประตูสู่โลกระดับจุลภาค

  • การเปรียบเทียบแง่มุมต่าง ๆ ของ OM กับ SEM

  • SEM ทำงานอย่างไร ?

  • แหล่งกำเนิดอิเล็กตรอน

  • ทัศนศาสตร์ของอิเล็กตรอน

  • ลักษณะการใช้งาน SEM

  • สัญญาณแบบต่าง ๆ

  • เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาดขั้นก้าวหน้า

  • ความก้าวหน้าทางด้านจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิง

  • การเตรียมตัวอย่าง

  • ปริศนาภาพ

  • ภาคผนวก

  • ประวัติผู้เขียน